[敏感词]由ICT测试设备厂家新利体育luck18为各人剖析ICT测试盲点的原因。?

1.当电阻与跳线并联时，无法丈量电阻

2.无法丈量与跳线并联的电感（或变压器，继电器）。

3.电感的过失部分是跳线或短路，无法测试。

4.小型电容器与小型电阻器并联连接，无法丈量小型电容器。

5.电感与电阻器或电容器及其他组件并联连接。电阻或其他组件无法丈量。

6.二极管以相同偏向并联连接，并且检测不到缺失的部件之一或空焊。

7.不可丈量与小电阻并联组件并联的组件。

8.电容器的电容太小，测试通常禁绝确。

9. IC，晶体振荡器，可调电阻器（VR），热敏电阻，浪涌吸收器和其他组件的内部性能无法丈量或无法准确测试。

10.二极管和晶体管与大电容器并联连接，无法丈量二极管和晶体管。

11.组件的崎岖点在同一个短路组中，并且这些组件不可测试。

12.在IC空焊测试历程中，如果被测IC的引脚和电容器并联连接，则该引脚如坚决开则不可进行测试。

13.小电容器与大电容器（C1 // C2）并联连接，无法丈量小电容器。一般来说，C2的电容是C1的10倍以上。C1是不可预测的。